K8000-M/L
专业高效存储芯片测试平台,为eFlash、NOR Flash、NAND Flash、ReRAM、MRAM等芯片的CP、FT测试提供一站式解决方案。 Slot数量:26/40 最大数字通道:9728ch 水冷系统
返回列表产品描述
>.NET Framework开放软件构架技术,易于二次开发;完美支持第三方部件扩展;
>提供各种ate行业调试工具及标准:支持stdf+shmoo tool+wave tracer+failbitmap tool
>D-link/C-link 私有协议总线,实现控制面、数据面分离;
>采用链式文件加密算法,提供高安全级别,高效率信息安全策略
>支持动态编译,编译效率更高
>支持客户测试资源定制化;
>采用最新一代液冷冷媒,整机液冷散热能力50KW
>K8000-M最大11+1,K8000-L最大17+1多电源备份冗余技术,系统可靠性大大提高;
>高密DPS板卡,单板卡解决多电源、大电流需求;
>支持通道组合,突破单通道电流瓶颈;(暂不支持)
>支持direct docking
>per site资源独立
技术指标
| Category | Key Spec | K8000-M | K8000-L |
| SLOT | slot | 26 | 40 |
| Digital | Data Rate | 600Mbps | |
| Digital channel count | 6400 | 9728 | |
| PPMU | Per Pin(VSIM,ISVM,MVM) (-1.5V~+6.4V,±50mA) | ||
| Differential I/O | No | ||
| DPS | High Voltage DPS | 270 Channels /Board (-6~30V,120mA) | |
| DPS | 64 Channels /Board ( -6V~13.5V ) | ||
| ALPG | ALPG Address Data | 24X/24Y/24Z/36D | |
| ALPG memory depth | 4KW(支持动态重配) | ||
| Address fail memory depth | 1Gbit/ch | ||
| Fail capture memory capacity | 1KW | ||
| Universal buffer memory | 4K*36bit/DUT | ||
| Data buffer memory | 1Gb/ch | ||
| Data fail analysis memory | 512bit*512 | ||
| Bad block memory depth | 1KW/DUT | ||
| Bad block counter | 16bit/DUT | ||
| address fail counter | 32bit/DUT | ||
| Bit fail counter | 32bit*4/ch | ||
| Timing Generator | Number of timing edges | 10 timing edges/pin (4 drive + 2 drive enable + 4 compare) | |
| TS on-the-fly | 62 | ||
| EPA | <±200ps | ||
| OTA | <±450ps | ||
| Others | 散热 | 液冷 | |
| MTBF | >5000h | ||
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